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从宏观到微观:数码显微镜正在掀起工业检测领域的变革

2020-12-08 | 来源:
从宏观到微观:数码显微镜正在掀起工业检测领域的变革实验室中的空间非常宝贵,因此可以将多个显微镜合而为一的系统必不可少。如今,数码显微镜就能实现这一目标,其放大倍率范围覆盖22毫米至42微米的视野。在高放大倍率下观察小块区域以查看细节前,其“宏观到微观”功能可以在低放大倍率下轻松观察样品,以便在样品周围背景环境中观察其特性。通过易操作的用户界面,即使是新手也能够仅使用一台仪
从宏观到微观:数码显微镜正在掀起工业检测领域的变革

实验室中的空间非常宝贵,因此可以将多个显微镜合而为一的系统必不可少。如今,数码显微镜就能实现这一目标,其放大倍率范围覆盖22毫米至 42 微米的视野。在高放大倍率下观察小块区域以查看细节前,其“宏观到微观”功能可以在低放大倍率下轻松观察样品,以便在样品周围背景环境中观察其特性。通过易操作的用户界面,即使是新手也能够仅使用一台仪器快速轻松地获取样品结果。

宏观

数码显微镜的优势不仅仅在于能够扩大其放大倍率范围,在显微镜上加装电动部件后,还可进一步扩展系统功能。对于超出系统视野范围的较大样品,您可以使用图像拼接功能和 X、Y、Z 轴电动载物台快速轻松地捕获样品的完整图像。由此,您可获得一个全聚焦的高分辨率图像,您可以利用它来放大您所感兴趣的特征或提供进一步分析所需的图像背景。

微观

使用相同的显微镜系统并移至更高的放大倍率,仅需点击宏观图像即可移至样品上的任何位置,无需从一个系统切换至另一个系统时重新定位样品缺陷或者依赖于复杂的坐标定位方法。无论您是对检测表面粗糙度、微米级缺陷、结构特征还是其他内容感兴趣,我们的数码显微镜配备了一系列传统光学技术和高级图像处理功能,如高动态范围 (HDR) ,以便改善表面对比度。

对传统显微镜极具挑战性、而数码显微镜却非常擅长的一项典型检测示例是对抛光样品的观察。正置式显微镜通常很难应对抛光样品,因为它们通常不是完全平面和水平的,因此难以使样品表面与显微镜的光轴垂直。所以,显微镜光轴与样品表面自然垂直的倒置显微镜往往更受青睐。然而,使用数码技术和电动部件时,可以弥补正置式显微镜的这一局限性,为进一步地深入分析提供了可能性。

高级分析

将数码显微镜与高级图像分析软件集成后,您还能够对仪器进行定制。使用DSX 系列数码显微镜提供的标准操作程序和向导式操作功能,您可以比以往更轻松地完成工作。现在,即使是训练相对较少的用户也可以进行从晶粒分析到复杂的颗粒分级等多种类型的分析。

铝质徽章的宏观图象,圆形特征为凸起

仔细观察其中一个凸起

以 5000x 放大倍率拍摄的凸起表面的图像

其中一个凸起的三维图

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